投影仪光色均匀性测量系统简介

更新时间: 2023-06-04

**研制完成的用于大屏幕投影机光色参数的快速测量仪器，特别适用于投影机生产**的自动调校。其测量对象包括屏幕光通量、屏幕的光通量不均匀性（反之称为均匀性）、对比度、色品坐标和色温。
仪器预设标准A光源及D65光源文件，并可根据用户需求，由用户任意设定存储标准光源。仪器可根据不同参考光源自动修正探测器的光谱参数误差，达到屏幕的总光通量、屏幕的光通量不均匀性、色品坐标和色温的精密测量。其测量精度达到国际先进水平。
仪器软件运行于Windows7/NT环境，具有友好的图形界面、功能强大。采用图形化实体数据显示，可以进行柱形图和亮度图切换及数据打印输出。仪器同时具有实时通讯功能，适用于屏幕参数的在线测量及控制。

技术指标:

• 光通量测量范围：0-8000lm(按4m²计算)

• 仪器精度：优于±4%

• 分辨率：0.05%(满量程)

• 线性：±1%

• 工作温度:0-50℃

• 投影屏幕测试探测器：1-9探测器为照度探测器，5、10、11探测器为色度探测器(根据用户要求仪器也可附带15个探测器)

• 探测器V(λ)匹配达国家一级照度计标准

• 具有色温修正软件, 可**测量不同色温的光通量及色品坐标

• 总光通量自动计算和屏幕光通量不均匀性计算及其相关软件

• 微机控制及上位机通讯